汉达森专业销售langer-emv探头XFS系列

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       XFS-R 3-1

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　　扫描仪探头 30 MHz 至 6 GHz

　　XFS-R 3-1 扫描仪探测器设计用于在组件上直接高分辨率测量射频磁场，例如围绕引脚和 IC 外箱、导路、脱钩电容器和 EMC 组件。

　　XFS-B 3-1

　　扫描仪探头 30 MHz 至 6 GHz

　　XFS-B 3-1磁场扫描仪探测器的测量线圈正交地排列在探针轴上。通过垂直定位探头，测量线圈直接接触打印电路板的表面。这允许在印刷电路野猪表面的地方使用。
汉达森 祁佳强177*4453*6447

　　XFS-E 10

　　扫描仪探头 30 MHz 至 6 GHz

　　XFS-E 10 扫描仪探头中的电极宽度约 0.2 毫米。有了探针，甚至最小的电子场源也可以定位，例如导电宽度为 0.1 mm 的路径或多固定 IC 上的单个引脚。要测量，电子场探头被定位到对象上。

　　XFS-E 09s

　　扫描仪探头 30 MHz 至 6 GHz 汉达森 祁佳强177*4453*6447

　　XFS-E 09s 扫描仪探测器头上的电极检测电子场，例如，这些电场在 IC 表面上方脱钩。探测器的分辨率允许在总成上方距离为 0.5 mm 到 10 mm 的测量。用于测量，电子场探头放置在目标上。