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| 品牌IBS Precision Engineering | 有效期至长期有效 | 最后更新2022-04-12 17:54 |
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IBS光学干涉仪ARINNA AR2
IBS光学干涉仪ARINNA AR2
ARINNA能够测量离散的步高和表面质量，垂直分辨率为 <2nm。巨型像素摄像头可在 1 秒内捕获表面扫描。可用于在线缺陷检测和特征化、光学表面和结构测量、3D表面拓扑测量、MEMS/NEMS 检测等。
印刷电子生产线- AR5 系统已集成到生产用于汽车应用的印刷电子的生产线中。根据公差值评估 100 纳米到 1 微米深度的激光划线，以控制激光工艺。
AR2
Z 范围 （μm） 96
| 李银 QQ：3636923259 手机：17150029804 电话：010-64714988-222 传真：010-64714988-668 邮件：tk6@handelsen.cn |
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每次捕获 FOV （毫米） 2，8 x 2，8。
Z 分辨率 （μm） 0,002
结果时间（秒） 1，5 （0，9 测量 +0，6 计算）
工作距离（毫米） 34
分辨率为 15kHz 有色 0，007%，有色 0，009%
零/偏移调整 是的
典型的热漂移 0，01% F.S.*/C
LED 范围指示器 是的
其他功能 带宽：100 赫兹、1 kHz、10 kHz、15 kHz（用户可选）
