Contelec欧洲进口编码器旋转编码器

高精度 3D 测量

借助 Vert-X 13，Contelec 为表面多维测量探头提供了新选择。

使用3D测量头对表面进行精确的多维机械测量是一项艰巨的挑战：测量头在x和y方向上的索引位置必须以高的精度和可重复性接近，并进行机械锁定。

为了实现精确的角位置，以前的解决方案依赖于电位编码器的使用。这些已经在日常使用中证明了自己，但由于其性能特征，它们只允许以5°步长构建具有索引位置的探头 - 这一值在许多应用中是不够的。

vert X 非接触式技术

为了尽可能地减少分度位置的步长，建议使用基于Vert-X技术的非接触式编码器。电位计胜过其准确性和长期稳定性。然而，它们在标准配置中有一个缺点：由于它们紧邻安装在测量头中的直流电机，偏移90°，旋转编码器和电机的磁铁相互影响。这会导致信号失真和不令人满意的结果。

为了解决这个问题，Contelec开发了一种针对3D传感器特定需求的解决方案。这样可以构建分度位置静止至2.5°的测量头，与以前的解决方案相比，这相当于步长减半。

具有有效屏蔽功能的角度传感器

为了避免电机和编码器磁铁的相互影响，Contelec开发了一种有效的屏蔽。现在，在电机、其他编码器和永磁体附近也可以进行灵敏和高精度的角度测量。

实施了一种解决方案，不仅可以在的vert-X 13设计中实现，还可以扩展到带有安装轴的较大角度传感器。Contelec的解决方案是一种新的磁体配置，或将环形磁体集成到具有集成轴的铁磁旋转体中（“钟形设计”）。

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环形磁铁的磁场被旋转体有效地捆绑在一起，使得磁铁对外部的干扰小化，并且几乎不会与磁屏蔽编码器外壳发生任何相互作用。

一方面，潜在的磁滞效应甚至不会发生。另一方面，铁磁外壳的整个饱和场强度可用于记录外部干涉场。这样可以有效地屏蔽甚至升高的干扰场，例如由电机引起的干扰场。干涉场灵敏度可降低 5 倍。