MicroSenseEZ-VSM 振动样品磁强计 磁测量设备

 

EZ-VSM可以进行几乎所有的磁学实验测量：比如磁滞回线和小磁滞回线、IRM和DCD剩磁曲线、SFD、Delta M、Delta H、Henkel Plots、变角和AC剩磁曲线、温度扫描和时间衰减等测试。同样，用户也可以通过系统功能来进行自定义测量，只需灵活的运用Easy VSM软件进行编程即可完成。该软件具有强大的处理数据能力，可以直接读取HCB、HCJ、磁能积和各向异性场等参数，对研究永磁的客户非常方便。所有的EZ系列产品都可同时配备磁扭矩测试和磁电阻测试系统，另外新增了磁光克尔和磁电耦合测试、铁磁共振选件，拓展了设备的测试功能。

VSM振动样品磁强计设备特点:

 

 

 

▪  任何测试间距都具有噪声。

 

▪  当选配EZ1-LNA温度组件时，噪声低于0.5 µemu。

 

▪  在可用样品空间内噪声低于0.1 µemu。

 

▪  场噪声低，约5 mOe。

 

▪  磁场分辨率高，约0.2 mOe。

 

▪  扫场速率最高可达1T/s，采点速率1000点/s。

 

▪  无需硬件切换即可调节77 K、100-1000 K温区。

 

▪  新增磁光克尔功能、新增磁电耦合选件、直流/交流磁电阻选件、FMR选件、自动进样选件。

 

▪  选用温度选件时，具有10mm样品腔空间。

 

▪  安全可靠的风冷磁体电源。

 

▪  设备设计紧凑，所需空间小。

 

VSM振动样品磁强计应用领域:

 

 

 

该设备能够测量多种磁性样品，包括：

 

▪  声频

 

▪  视频数据磁带

 

▪  软磁媒体

 

▪  溅射与电镀型薄膜磁盘

 

▪  磁光盘

 

▪  多层膜结构

 

▪  软、硬磁铁氧体

 

▪  磁粉

 

▪  永磁材料

 

▪  高温超导体

 

▪  强磁性铁镍合金以及其他软磁材料